產(chǎn)品老化的意義：隨著電子技術(shù)的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越細(xì)微，工序越來越多，制造工藝越來越復(fù)雜，這樣在制造過程中會產(chǎn)生一些潛伏缺陷。電子產(chǎn)品在生產(chǎn)制造時(shí),因設(shè)計(jì)不合理、原材料或工藝措施方面的原因引起產(chǎn)品的質(zhì)量問題概括有兩類，*類是產(chǎn)品的性能參數(shù)不達(dá)標(biāo)，生產(chǎn)的產(chǎn)品不符合使用要求；第二類是潛在的缺陷，這類缺陷不能用一般的測試手段發(fā)現(xiàn)，而需要在使用過程中逐漸地被暴露，如硅片表面污染、組織不穩(wěn)定、焊接空洞、芯片和管殼熱阻匹配不良等等。一般這種缺陷需要在元器件工作于額定功率和正常工作溫度下運(yùn)行一千個小時(shí)左右才能全部被激活（暴露）。顯然，對每只元器件測試一千個小時(shí)是不現(xiàn)實(shí)的，所以需要對其施加熱應(yīng)力和偏壓，例如進(jìn)行高溫功率應(yīng)力試驗(yàn)，來加速這類缺陷的提早暴露。也就是給電子產(chǎn)品施加熱的、電的、機(jī)械的或多種綜合的外部應(yīng)力，模擬嚴(yán)酷工作環(huán)境，消除加工應(yīng)力和殘余溶劑等物質(zhì)，使?jié)摲收咸崆俺霈F(xiàn)，盡快使產(chǎn)品通過失效浴盆特性初期階段，進(jìn)入高可靠的穩(wěn)定期。而通過高溫老化可以使元器件的缺陷、焊接和裝配等生產(chǎn)過程中存在的隱患提前暴露，老化后再進(jìn)行電氣參數(shù)測量，篩選剔除失效或變值的元器件，盡可能把產(chǎn)品的早期失效消滅在正常使用之用，從面保證出廠的產(chǎn)品能經(jīng)得起時(shí)間的考驗(yàn)。老化的意義總結(jié)而言是通過對電子產(chǎn)品施加加速環(huán)境應(yīng)力，如溫度應(yīng)力、電應(yīng)力、潮熱應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等，促使?jié)撛谌毕菁铀俦┞冻晒收希_(dá)到發(fā)現(xiàn)和剔除潛在缺陷的目的。

 

高溫老化房在試驗(yàn)完畢后正確的操作方法：

1、高溫老化房使用完畢，應(yīng)先切斷“高壓”開關(guān)，然后切斷“低壓” 開關(guān)，否則由于電子管燈絲的余熱，可能使電路工作在不正常的條件下，造成意外的故障。

2、高溫老化房使用完畢，應(yīng)先切斷儀器的電源開關(guān)，然后取離電源插頭。應(yīng)禁止只拔掉電源插頭而不切斷儀器電源開關(guān)的簡單做法，也應(yīng)反對只切斷電源開關(guān)而不取離電源插頭的習(xí)慣。前一種情況使再次使用老化箱時(shí)，容易忽略開機(jī)前的準(zhǔn)備工作，而使儀器產(chǎn)生不應(yīng)有的沖擊現(xiàn)象；后一種情況可能導(dǎo)致忽略儀器局部電路電源的切斷，而使這一部分電路一直處于通電狀態(tài)（例如數(shù)字頻率計(jì)的主機(jī)電源開關(guān)和晶 體振蕩器部分的電源開關(guān)一般都是分別裝置的。

3、高溫老化房使用完畢，應(yīng)將使用過程中暫時(shí)取離或替換的零部件 (如接線柱、插件、探測器、測試筆等）整理并復(fù)位，以免散失或錯配而影響工作和測量準(zhǔn)確度。必要時(shí)應(yīng)將儀器加罩，以免積灰塵。